W tym roku po raz pierwszy w przedsięwzięciu brali udział polscy eksperci z Zakładu Daktyloskopii Centralnego Laboratorium Kryminalistycznego Policji – mł. insp. Krzysztof Tomaszycki, kom. Tomasz Szczepański i mgr Urszula Więckiewicz. Uczestnicy konferencji mieli możliwość wysłuchania wielu interesujących wykładów, m.in. takich sław w dziedzinie kryminalistyki jak dr Henry C. Lee (University of New Haven) i William J. Bodziak (Forensics in Palm Coast, Florida), a także nabycia praktycznych umiejętności związanych z wizualizacją śladów daktyloskopijnych przy wykorzystaniu najnowszych osiągnięć techniki w trakcie warsztatów prowadzonych przez specjalistów min. z laboratorium kryminalistycznego FBI. W czasie kilkunastu sesji tematycznych poświęconych w większości badaniom daktyloskopijnym uczestnicy mogli zapoznać się z najnowszymi rozwiązaniami technicznymi w wizualizacji śladów daktyloskopijnych (np. upkonwersja, obrazowanie hiperspektralne, nowoczesne lasery, podciśnieniowa sublimacja), zabezpieczeniu śladów linii papilarnych na miejscu zdarzenia, fotografii kryminalistycznej, prowadzeniu Automatycznego Systemu Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS). Omawiane były również zagadnienia związane z systemem zarządzania jakością, w tym problematyka akredytacji europejskich laboratoriów kryminalistycznych (ISO/IEC 17025:2005), walidacji metod badawczych, a w szczególności akredytacji metod badawczych stosowanych w wizualizacji śladów. Dużym zaskoczeniem dla amerykańskiego audytorium była informacja podana przez Roberta Ramotowskiego, pracownika Secret Service będącego jednocześnie przedstawicielem IAI w The European Fingerprint Working Group (EFP-WG) – ENFSI, o akredytacji identyfikacji daktyloskopijnej opartej na systemie numerycznym. Konferencji towarzyszyły także sesja posterowa oraz wystawa, targi materiałów i sprzętu kryminalistycznego.