Spotkanie ekspertów technicznych ds. ECRIS
W dniu 18 kwietnia 2016 roku w Brukseli odbyło się zorganizowane przez Komisję Europejską spotkanie przedstawicieli instytucji prowadzących krajowe rejestry karne państw członkowskich UE, ekspertów technicznych ds. ECRIS (European Criminal Records Information System), a także oddelegowanych na prośbę Komisji Europejskiej ekspertów krajowych obsługujących systemy AFIS.
Podczas posiedzenia omawiane było studium wykonalności dotyczące wykorzystania odcisków palców do wymiany informacji o skazaniach obywateli państw trzecich w odniesieniu do europejskiego systemu przekazywania informacji z rejestrów karnych (ECRIS). Zaprezentowane zostały scenariusze możliwych rozwiązań technicznych, wyjaśniona została kwestia anonimizacji i pseudoanonimizacji danych daktyloskopijnych w systemie oraz omówiono mechanizm wyszukiwania danych.
Jako ekspert techniczny z zakresu AFIS państwo polskie reprezentowała podczas spotkania Małgorzata Walecka specjalista z Zakładu Daktyloskopii Centralnego Laboratorium Kryminalistycznego Policji, w którym znajduje się AFIS.